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MAPAN-Journal of Metrology Society of India

MAPAN-Journal of Metrology Society of India

SCIE,Scopus
期刊简介

MAPAN-Journal Metrology Society of India is a quarterly publication. It is exclusively devoted to Metrology (Scientific, Industrial or Legal). It has been fulfilling an important need of Metrologists and particularly of quality practitioners by publishing exclusive articles on scientific, industrial and legal metrology.

The journal publishes research communication or technical articles of current interest in measurement science; original work, tutorial or survey papers in any metrology related area; reviews and analytical studies in metrology; case studies on reliability, uncertainty in measurements; and reports and results of intercomparison and proficiency testing.

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期刊关键词

4区 SCIE Scopus 工程技术 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS APPLIED 物理:应用

期刊信息
期刊官网:https://www.springer.com/12647
期刊投稿网址:https://www.editorialmanager.com/jmsi/
PubMed Central (PMC)链接 :http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0970-3950%5BISSN%5D
通讯地:METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012
中国科学院《国际期刊预警名单(试行)》名单
2024年02月发布的2024版:不在预警名单中
2023年01月发布的2023版:不在预警名单中
2021年12月发布的2021版:不在预警名单中
2020年12月发布的2020版:不在预警名单中
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