Micron is an interdisciplinary forum for all work that involves new applications of microscopy or where advanced microscopy plays a central role. The journal will publish on the design, methods, application, practice or theory of microscopy and microanalysis, including reports on optical, electron-beam, X-ray microtomography, and scanning-probe systems. It also aims at the regular publication of review papers, short communications, as well as thematic issues on contemporary developments in microscopy and microanalysis. The journal embraces original research in which microscopy has contributed significantly to knowledge in biology, life science, nanoscience and nanotechnology, materials science and engineering.
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|---|
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| 版面费 | 审稿速度 | 收录数据库 | 是否oa | 研究方向 |
|---|---|---|---|---|
| 平均3.0个月 | SCIE,Scopus | No | 工程技术-显微镜技术 |
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|---|
| 工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 |
否 | 否 |
| 版本 | 按学科 | 分区 | 影响因子 |
|---|---|---|---|
| 2023-2024年最新版 | MICROSCOPY | Q1 | 2.5 |
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