国际期刊

展开

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS

期刊简介

《IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS》期刊已被查看:

此期刊未被最新的JCR期刊引证报告收录

期刊关键词

0区

期刊信息
期刊官网:http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54
期刊投稿网址:https://mc.manuscriptcentral.com/dt-cs
PubMed Central (PMC)链接 :http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0740-7475%5BISSN%5D
通讯地:IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314
中国科学院《国际期刊预警名单(试行)》名单
2024年02月发布的2024版:不在预警名单中
2023年01月发布的2023版:不在预警名单中
2021年12月发布的2021版:不在预警名单中
2020年12月发布的2020版:不在预警名单中
此期刊未被最新的JCR期刊引证报告收录

版面费 审稿速度 收录数据库 是否oa 研究方向
>12周,或约稿 No 工程技术-工程:电子与电气
中科院分区
大类学科 分区 小类学科 Top期刊 综述期刊
此期刊未被最新的 JCR 收录
WOS分区等级:0区
版本 按学科 分区 影响因子
2023-2024年最新版 Q0 0
IF值(影响因子)趋势图
年发文量趋势图
自引率趋势图
中科院分区

上一篇: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

下一篇:IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS

发表知识
同类期刊